Microscopio Elettronico a Scansione (SEM)

Il Microscopio Elettronico a Scansione attraverso una tecnica non distruttiva, consente di eseguire indagini morfologiche delle superfici con ingrandimenti fino a 400.000 X. Il SEM è dotato di sonda a Raggi X EDS per la microanalisi, che permette di eseguire analisi chimiche semi-quantitative puntuali o su aree selezionate.

Individuando gli elementi chimici presenti sulla superficie di un materiale è possibile fornire molteplici indicazioni riguardanti, ad esempio: cause di rottura, corrosione, elementi inquinanti etc..

Con il SEM si possono effettuare inoltre analisi riguardanti: microstrutture, nanomateriali, trattamenti superficiali (nichelature, cromature, PVD, CLD etc.). Inoltre è possibile avere indicazioni su trattamenti di tempra e di rinvenimento, indagini balistiche, reperti storici, tessuti organici, fibre e tessuti, fibre d’amianto.

E’ lo strumento principe per indagini di Failure Analysis. Il forte ingrandimento e la sonda per l’analisi chimica permettono di individuare zone di innesco della rottura, linee di propagazione della cricca ed aree con morfologia duttile o fragile.

Per questa tecnica il laboratorio dispone di tecnologia Zeiss per il microscopio elettronico a Scansione SEM e tecnologia Oxford per l’analisi con microsonda EDS/EDX.

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